Entdecken Sie eine neue Generation von Digitalmikroskopen - das EMSPIRA 3
Date: 7 October | Time: 11:00 CEST
Entdecken Sie eine neue Generation von Digitalmikroskopen - das EMSPIRA 3
Date: 7 October | Time: 11:00 CEST
Already Registered?
If you have previously registered for this event, please login below:
Register your details belowIn 3 Schritten zur Optimierung Ihrer Inspektion
Möchten Sie Ihre Qualitätskontrolle voranbringen? In diesem Sommer hat Leica ein neues Digitalmikroskop auf den Markt gebracht: das Emspira 3. Nehmen Sie an unserem Live-Webinar teil und erfahren Sie aus erster Hand, wie Sie die drei Leistungsmerkmale von Emspira 3 nutzen können, um Ihre Inspektion zu verbessern.
Effizienz:
Ihr PC wird überflüssig! Ob Sie nun im Live-Bild messen, Ihre Bilder mit Referenzbildern oder benutzerdefinierten Overlays vergleichen, Anmerkungen hinzufügen oder Ergebnisse mit Ihren Kollegen teilen möchten – all dies können Sie live und im Stand-Alone-Modus ohne PC tun. Vergessen Sie auch das lästige Hin- und Herwechseln zwischen verschiedenen PC-Arbeitsplätzen. Wir zeigen Ihnen, wie Sie mit Emspira 3 Zeit sparen, indem Sie alles in einem Schritt mit nur einem System erledigen.
Flexibilität:
Die Wahl des richtigen Zubehörs kann den entscheidenden Unterschied ausmachen. Wir beraten Sie bei der Auswahl der richtigen Beleuchtung und weiteres Zubehör. Sie lernen, wie Sie Emspira 3 problemlos an die spezifischen Anforderungen Ihrer Proben anpassen, um die gewünschten Ergebnisse zu erzielen.
Sicherheit:
Vertrauen Sie auf die beste Bildqualität! Das Emspira 3 beeindruckt mit seinem schnellen Live-Bild mit bis zu 60 fps in 4K-Auflösung. Und wenn Sie sich jemals Sorgen über Datenverlust gemacht haben: Wie zeigen Ihnen, wie Sie Ihre Daten sicher und zuverlässig in Ihrem lokalen Netzwerk speichern und jederzeit darauf zugreifen können.
Unsere Webinare stehen Ihnen jederzeit zur Verfügung. Registrieren Sie sich jetzt, um eine Aufzeichnung zu erhalten, sobald sie verfügbar ist.
Präsentiert von
Michael Doppler,
Senior Advanced Workflow Specialist, Leica Microsystems
Michael Doppler ist Senior Advanced Workflow Specialist bei Leica Microsystems. Er studierte Mineralogie und Wirtschaftsgeologie in Heidelberg und erhielt 1990 seinen Master of Science (MSc). Von 1990 bis 1996 arbeitete er als Scientific Collaborator an der Mineralogie-Abteilung der Universität Genf/Schweiz. Er unterrichtete an beiden Orten mineralogische Mikroskopie. Seit er 1996 zu Leica Microsystems kam, bekleidete er verschiedene Vertriebsfunktionen und Positionen im Anwendungsmanagement in der Schweiz, anderen Ländern in Europa und Vertriebsgebieten für Leica Microsystems. Er führte intern und extern zahlreiche Mikroskopie-Schulungen für Leica Mitarbeiter, Vertriebspartner und Kunden durch.
Wichtige Lernziele
- Wie Sie Ihre Inspektionsabläufe im Stand-Alone-Modus - ganz ohne PC - optimieren.
- Wie Sie mit einem einzigen System alle Aufgaben von der visuellen Inspektion bis zur Messung und dem Datenaustausch erledigen und dabei Zeit und Mühe sparen.
- Wie Sie Bilder automatisch in Ihrem Netzwerk speichern und Ergebnisse so einfacher mit Kollegen teilen.
- Wie Sie Ihre Inspektionsanforderungen optimal zu erfüllen, indem Sie Emspira 3 mit einer Vielzahl an Zubehörteilen kombinieren.
Publikum
- Qualitätsingenieur- Qualitätsmanager
- Produktionsmanager - Produktionsmitarbeiter
- Inspektionsmanager - Inspektionsingenieur
- Qualitätskontrollmanager - Qualitätskontrollmitarbeiter
- Qualitätssicherungsmanager - Qualitätssicherungsmitarbeiter
- F&E-Manager- F&E-Ingenieur - F&E-Mitarbeiter
- Entwicklungsmanager - Entwicklungsingenieur
- Produktentwicklungsmanager
- Laborleiter - Labortechniker
- Analytischer Laborleiter - Analytischer Chemiker
- Forscher
- Wissenschaftler - Wissenschaftlicher Mitarbeiter
- Mikroskopiker - Mikrobiologe
- Pathologe
- Geologe - Geophysiker- Geowissenschaftler - Professor für Geowissenschaften
- Mineraloge
- Paläontologe
- Forensischer Wissenschaftler - Forensischer Sachverständiger
- Metallograph - Metallurge
- Tutor - Schullehrer